LabStation-5落地式X射線衍射儀作為新一代高性能多功能衍射分析平臺(tái)，配備了HPC探測器，并具備自動(dòng)識(shí)別功能，能夠智能識(shí)別所有光學(xué)組件和樣品臺(tái)。結(jié)合CrystalX智能分析軟件，它可實(shí)現(xiàn)一鍵式操作，從樣品放置到結(jié)果分析全程自動(dòng)化，極大地簡化了實(shí)驗(yàn)流程，顯著提高了科研效率。

該儀器不僅操作簡便，還具備高度靈活性。其高精度θ/θ閉環(huán)測角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)確保了測量結(jié)果的高準(zhǔn)確性和重復(fù)性。非共面臂結(jié)構(gòu)進(jìn)一步拓展了儀器的應(yīng)用范圍和測量能力。無論是普通粉末樣品、液體樣品，還是納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜等復(fù)雜樣品，LabStation-5都能輕松應(yīng)對(duì)，滿足多樣化的科研需求。全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化設(shè)計(jì)的結(jié)合，在實(shí)現(xiàn)先進(jìn)測量的同時(shí)，提供了強(qiáng)大的擴(kuò)展性，可根據(jù)不同需求靈活配置。

憑借其的性能、智能的操作方式以及多功能性，LabStation-5為材料科學(xué)、納米技術(shù)、半導(dǎo)體研發(fā)等領(lǐng)域的工作者提供了一個(gè)高效、可靠的分析平臺(tái)，助力研發(fā)生產(chǎn)與技術(shù)創(chuàng)新。

使用優(yōu)勢(shì)

模塊化設(shè)計(jì)

配備模塊化樣品臺(tái)系統(tǒng)，支持無工具卡扣式插拔，安裝與更換過程簡單高效，極大地提升了儀器使用的靈活性。

多種光束幾何

配備Bragg-Brentano粉末衍射幾何和塊狀樣品、涂層和適用于薄膜的平行光束幾何，它們之間可以進(jìn)行切換，且無需人工干預(yù)，是粉末、塊狀物體、纖維、片材和薄膜（非晶、多晶和外延）在內(nèi)的所有類型的樣品進(jìn)行分析的理想選擇。

出色的HPC探測器

搭載光子計(jì)數(shù)像素化HPC探測器，在對(duì)衍射強(qiáng)度具有極大提升的同時(shí)，顯著提升了靈敏度、信噪比、動(dòng)態(tài)范圍、時(shí)間分辨率和空間分辨率五大核心性能。

電動(dòng)可變狹縫

配備電動(dòng)可變狹縫能夠根據(jù)測量需求自動(dòng)調(diào)整狹縫寬度，優(yōu)化光束強(qiáng)度與分辨率，提高測量精度和效率，同時(shí)適應(yīng)不同樣品類型和實(shí)驗(yàn)條件，增強(qiáng)儀器的靈活性和適用性。

多元化的附件選擇

可配備豐富的樣品臺(tái)附件，為您提供靈活多樣的樣品分析解決方案，滿足不同形態(tài)、尺寸和測試需求的樣品分析，助您更全面、深入地探索材料特性。

衍射圓半徑≥300mm

LabStation-5配備衍射圓半徑≥300mm，可顯著擴(kuò)展測量角度范圍，提供更高的分辨率和更寬的2θ掃描范圍，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)復(fù)雜材料微觀結(jié)構(gòu)的高精度分析，尤其適用于薄膜、納米材料及多晶樣品的精細(xì)研究。

非共面臂結(jié)構(gòu)

配備非共面臂結(jié)構(gòu)顯著擴(kuò)展了測量角度范圍，提升了測量精度，增強(qiáng)了面內(nèi)衍射測量能力，同時(shí)支持多種應(yīng)用，為薄膜研究、殘余應(yīng)力分析、織構(gòu)分析等提供了強(qiáng)大的支持，極大地提升了儀器的多功能性和適用性。